VCSEL生産テスト VCSELのパルス発光に対する特性評価
VCSELのインプロセス検査のための確かな測定システム
レーザーダイオード/VCSELのインプロセス検査では、測定システムを選択する際に高いレベルの精度と安定性が求められます。光学特性や時間的なパルス性能を信頼性高く正確に測定することは、製造工程におけるレーザーダイオードの特性評価や選別を再現するための必須条件です。
CASシリーズ分光器の高解像度版をベースに、VCSELラボ測定ステーションに加え、生産におけるVCSEL特性評価に最適化された複数の完全なソリューションを提供しています。
Instrument Systems社の測定ソリューションのモジュラー設定と、CAS-HRシリーズ（CAS 140D-HR、CAS 120-HR、CAS 125-HR）の優れたスペクトル分解能により、幅広い用途に対応します。トレーサブルで絶対校正されたフォトダイオードを統合することで、放射フラックスが直接の測定量として出力され、測定精度の確保において重要な役割を果たします。
さらに、リニア型の高速フォトダイオードを組み込むことで、単一のパルスまたはパルス列を測定することができます。合わせてギガヘルツ領域で動作するドライバーと高速読み出し回路がそれを実現しています。
主な特長：
- パルスレーザダイオード/VCSEL専用のフォトダイオードアレイ型分光器
- 0.12 nmまでの高いスペクトル分解能
- 生産現場や研究室における信頼性とコスト効率の高いソリューション
- 校正フォトダイオードを用いたパフォーマンス測定（オプション）
- 1 ナノ秒の極めて短いパルスの測定 （オプション）
要求事項
製造現場では、短いサイクルタイムで高いスループット率（UPH）を維持することが最も重要です。レーザーダイオードは、一般的に非常に狭いスペクトル範囲で高い出力を持ち、短い積分時間で検出器を十分に変調することができます。そのため、高スループットでサイクル精度の高い測定値を得るためには、可能な限り短い測定時間を持つ測定システムが必要となります。
また、10A以上の電流で短パルスを発生させ、数ギガヘルツのサンプリングレートで測定データを取得する必要があるため、特に短パルスや高周波パルスの特性評価には高度なエレクトロニクスが必要となります。
システム構成
生産中のレーザーダイオード/VCSELの放射束を高速かつ正確に測定するためのInstrument Systems社のオールインワン・システムは、通常、以下のコンポーネントで構成されています。
個別の構成
弊社のシステム専門家は、お客様の特定のアプリケーションについて適切なアドバイスを提供します。弊社のグローバルサービス では、迅速なセットアップと、システムのライフタイム全体にわたる完全なサポートを保証します。最適なソリューションを一緒に見つけましょう。
