VCSEL Produktionstest Komplette Charakterisierung gepulster VCSEL


Stabiles Komplettsystem zur VCSEL-Fertigungskontrolle
In der Fertigungskontrolle von Laserdioden/VCSEL ist eine hohe Genauigkeit und Stabilität entscheidend für die Wahl des Messsystems. Die zuverlässige und präzise Erfassung der optischen Eigenschaften und des zeitlichen Pulsverhaltens ist Voraussetzung für eine reproduzierbare Charakterisierung und Sortierung der Laserdioden im Produktionsprozess.
Basierend auf den hochauflösenden Varianten der Spektralradiometer der CAS-Serie bietet Instrument Systems neben dem VCSEL-Labormessplatz mehrere optimal auf die VCSEL-Charakterisierung in der Produktion abgestimmte Komplettlösungen an.
Neben dem VCSEL-Labormessplatz bietet Instrument Systems auf Basis der hochauflösenden Spektralradiometer der CAS-Serie mehrere Komplettlösungen an, die optimal auf die VCSEL-Charakterisierung in der Produktion abgestimmt sind.
Der modulare Aufbau aller Messlösungen von Instrument Systems und die hervorragende spektrale Auflösung der CAS-HR-Serie (CAS 140D-HR, CAS 120-HR, CAS 125-HR) ermöglichen ein breites Anwendungsspektrum. Durch die Integration einer rückführbaren, absolut kalibrierten Photodiode wird der Strahlungsfluss als direkter Messwert ausgegeben – ein entscheidender Faktor für die Messgenauigkeit.
Darüber hinaus kann eine schnelle Photodiode mit direkter Sicht integriert werden, um den Verlauf eines einzelnen Pulses oder einer kompletten Pulsfolge zu messen. Dies erfordert eine zusätzliche Treiber- und Ausleseelektronik, die im Gigahertz-Bereich arbeitet.
Key Features:
- Array-Spektralradiometer speziell für gepulste Laserdioden/VCSEL
- Hohe spektrale Auflösung bis zu 0,12 nm
- Zuverlässige und kosteneffiziente Lösung für Produktion und Labor
- Optionale Leistungsmessung mit kalibrierter Photodiode
- Optionale Messung extrem kurzer Pulse bis hinunter auf 1 ns
Anforderungen
Im Produktionsumfeld steht die Einhaltung des hohen Durchsatzes (UPH) und kurzer Taktzeiten im Vordergrund. Laserdioden haben typischerweise eine sehr hohe Leistung in einem sehr schmalen Spektralbereich, so dass eine ausreichende Aussteuerung des Detektors auch bei kurzen Integrationszeiten gegeben ist. Für die taktgenaue Erfassung der relevanten Messergebnisse bei hohem Durchsatz ist daher ein Messsystem mit möglichst kurzer Messzeit notwendig.
Insbesondere bei der Charakterisierung sehr kurzer und hochfrequenter Pulse wird anspruchsvolle Elektronik benötigt, da sowohl die kurzen Pulse bei Strömen von 10 A und mehr erzeugt, als auch die Messdaten mit Sampling-Raten von mehreren Gigahertz erfasst werden müssen.
Systemkonfiguration
Die Komplettsysteme von Instrument Systems für die schnelle und präzise Bestimmung der Strahlungsleistung von Laserdioden/VCSEL in der Produktion bestehen typischerweise aus folgenden Komponenten:
Individuelle Konfiguration
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