Neuer Technical Report CIE 250:2022 zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen
11.08.2022
Dr. Tobias Schneider, Chief Scientist bei Instrument Systems, übernahm als Vorsitzender des Technischen Kommitees TC2-80 die wissenschaftliche Leitung bei der Ausarbeitung des neuen CIE-Reports. Dieser, erschienen als CIE 250:2022, ersetzt den beinahe 40 Jahre alten Technical Report CIE 063-194.
Er erklärt praxisorientiert die Grundprinzipien spektralradiometrischer Messungen von optischen Strahlungsquellen im Wellenlängenbereich von 200 nm bis 2.500 nm. Darüber hinaus gibt er konkrete Anleitungen, um relevante Messunsicherheitskomponenten zur identifizieren, zu verstehen und zu quantifizieren
