Instrument Systems的TOP 300 AR/VR光学探头用于测量亮度和光谱辐亮度,并能对光源、光学透镜、光学模块或完全组装的AR/VR眼镜进行颜色分析。该耦合光学系统模仿人眼光学系统,并集成了取景相机。通过光纤连接,它可以连接到CAS系列光谱辐射仪。它专为AR/VR模块的颜色和亮度的简单光学测试而设计,是模块级测试中一种经济高效的替代方案。
TOP 300已经在旧金山的SPIE.AR|VR|MR 2024首度亮相,并将在3月20日至22日于上海举行的LASER WoP China上进一步开拓亚洲市场。