专为微型LED显示器和晶圆设计的超高速、高精度光学计量技术

Instrument Systems将探讨微型LED在显示器和晶圆上的计量和分析所面临的挑战及解决方案。此方案的核心是高分辨率的成像光测量设备，这些设备专为大规模生产的速度而优化，具备可追溯至国家标准的光度准确性，并且能灵活应对各种待测产品。我们将展示针对显示器、量子点和微型LED进行的单发射器解析的电致发光和光致发光的测量和分析结果，并介绍一款使用Instrument Systems测量设备的量产PL晶圆测试仪。